Класически анализ за надеждност на двоични тестове въз основа на две-параметричния логистичен модел


Цветков, Димитър (2006) Класически анализ за надеждност на двоични тестове въз основа на две-параметричния логистичен модел Научно-приложна конференция по математика, информатика и компютърни науки, Велико Търново, 2006


 In this paper we give a stochastic estimate of the classical reliability for binary tests by means of the two-parameter IRT model
  Доклад
  Test Reliability, Item Response Theory.


Социални, стопански и правни науки
Природни науки, математика и информатика

Social sciences, economic sciences and law
Natural sciences, mathematics and informatics

 Издадено
  4752
 Димитър Цветков

Научният архив поддържа инициативата за отворен достъп OAI 2.0 с начален адрес: http://da.uni-vt.bg/oai2/