Класически анализ за надеждност на двоични тестове въз основа на две–параметричния логистичен модел,


Христов, Любомир (2006) Класически анализ за надеждност на двоични тестове въз основа на две–параметричния логистичен модел, Национална Научно–приложна конференция “Математика, информатика и компютърни науки”, В. Търново 2006.


 In this paper we give a stochastic estimate of the classical reliability for binary tests by means of the two-parameter IRT model.
  Доклад
 Test Reliability; Item Response Theory.


Природни науки, математика и информатика

Natural sciences, mathematics and informatics

 Издадено
  4722
 Любомир Христов

Научният архив поддържа инициативата за отворен достъп OAI 2.0 с начален адрес: http://da.uni-vt.bg/oai2/